Politrack全自動(dòng)固體徑跡蝕刻測(cè)量系統(tǒng)簡(jiǎn)介：
Politrack® 是用于固體核徑跡蝕刻探測(cè)器的全自動(dòng)掃描測(cè)量系統(tǒng)。
Politrack可以讀取 CR-39 和 LR115 探測(cè)器。主要應(yīng)用于各類研究，氡和中子的劑量測(cè)定。
Politrack提供了多種軟件包，適用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和熱中子以及LET光譜測(cè)量。
掃描面積可達(dá) 205x205 mm2，用戶可定義探測(cè)器尺寸和讀取面積。
通過(guò) OCR 讀取探測(cè)器ID。
在掃描開(kāi)始時(shí)執(zhí)行的自動(dòng)對(duì)焦例程可確保在整個(gè)讀取過(guò)程中使圖像聚焦探測(cè)器表面。
形態(tài)分析會(huì)將對(duì)來(lái)自不同粒子或具有不同能量的徑跡蝕刻進(jìn)行分類，并去除本底噪聲。
形態(tài)參數(shù)中具有濾鏡功能，用戶可以看到應(yīng)用濾鏡后會(huì)發(fā)生或出現(xiàn)什么狀態(tài)，并且以此進(jìn)行修改參數(shù)范圍或度。軟件可對(duì)與徑跡密度成正比的徑跡重疊進(jìn)行校正。
輸出數(shù)據(jù)文件包含所有探測(cè)器相關(guān)數(shù)據(jù)，用戶可以自定義輸出模板和格式（與Excel*兼容）。

Politrack全自動(dòng)固體徑跡蝕刻測(cè)量系統(tǒng)特點(diǎn)：
任何尺寸的CR-39和LR115檢測(cè)器均可讀數(shù)
精密的徑跡蝕刻形態(tài)分析
CR-39檢測(cè)器老化校正
LR115殘余厚度校正
重疊校正
清晰明確的算法，不存在黑匣子
操作員可設(shè)置和修改所有參數(shù)

Politrack固體徑跡蝕刻測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域：
各類研究工作
劑量測(cè)定服務(wù)
氡測(cè)量
快中子
熱中子
LET光譜

Politrack固體徑跡蝕刻測(cè)量系統(tǒng)操作方法：
用戶可以定義探測(cè)器的類型和尺寸，讀取區(qū)域以及所有掃描參數(shù)。形態(tài)分析可以區(qū)分來(lái)自不同粒子和具有不同能量的徑跡，去除本底干擾。

所有算法清晰明確，用戶可以通過(guò)功能強(qiáng)大的圖形工具輕松修改和/或應(yīng)用形態(tài)分析濾鏡，并實(shí)時(shí)可視化結(jié)果。若需更改參數(shù)，可直接使用二次計(jì)算工具，而無(wú)需重新讀取探測(cè)器。輸出文件包含所有探測(cè)器相關(guān)掃描數(shù)據(jù)，用戶可自定義輸出模板和格式。

Politrack固體徑跡蝕刻測(cè)量系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)：